• 故障定位与评估指标

    延用 ATPG 向量对芯片进行故障定位，反馈设计与制造细节

   （设计：Timing 修正；制造：工艺流程指标）

 

• 支持故障诊断类型

    支持 SAF 固定故障与全部 TF 时延故障

 

• 故障位覆盖升级

    支持组合逻辑诊断，支持扫描链故障诊断

 

• 扫描模式设置

    支持两种扫描模式：旁路模式(bypass)与压缩模式(compressor)